自动测试设备(ATE) 半导体测试系统 电路板测试系统 仪器仪表和表征设备
AD53509是一款单芯片器件，用于在ATE VLSI和存储器测试仪中执行驱动器、比较器和有源负载的引脚电子功能。此外，它还内置一个用于有源负载的肖特基二极管桥和一个VCOM缓冲器。
驱动器采用专有设计，提供三种有源状态：数据高电平状态、数据低电平状态和期限状态，以及一种抑制状态。输出电压范围为−2 V至+7 V，支持多种测试设备。整个信号范围内的输出漏电流典型值小于250 nA。
双通道比较器的输入范围与驱动器输出范围相同，内置锁存器并提供ECL兼容型输出。输出能够驱动端接到−2 V电压的50 Ω信号线路。信号跟踪能力大于>5 V/ns。
有源负载可以用来提供最高40 mA的负载电流，整个设置范围内的线性度误差小于10 μA。IOH、IOL和缓冲VCOM均可独立调整。片上肖特基二极管具有高速开关和低电容特性。
片内还集成温度传感器，其作用是指示DCL的表面温度。可以利用此信息来测量θJC和θJA，或者在失去正常冷却功能时提示报警。传感器输出是一个与绝对温度成比例的吸电流。增益被调整到1.0 μA/K的标称值。例如，可以利用一个连接在10 V电压与THERM引脚之间的10 kΩ电阻来检测输出电流。该电阻上的压降为：
10 K × 1 μA/K = 10 mV/K = 2.98 V（室温时）
数据手册，Rev. B，3/08
专用标准产品 |
| 文档 | 备注 |
| AD53509: High-Performance Driver/Comparator Active Load on a Single Chip Data Sheet (Rev. B) | PDF 106 kB |
| 产品型号 | 封装 | 包装数量 | 温度范围 | 美金报价 100-499 | 美金报价 1000+ | RoHS |
|---|---|---|---|---|---|---|
| AD53509JSWZ 量产 | LQFP 1.4 MM W/ THERMAL PAD | OTH 90 | 0 至 70至 | 0 | 0 | Y |
